產品資料
電鍍膜厚高靈敏度測量電解式膜厚測厚儀
產品名稱: 電鍍膜厚高靈敏度測量電解式膜厚測厚儀
產品型號: CT-3
產品特點: 電鍍膜厚高靈敏度測量電解式膜厚測厚儀電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備，它基于庫侖法原理，通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度，主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點：輕巧緊湊的機身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設置為高于以前的模型，并可以提高測量的穩定性。廣泛的校準范圍：標準板的校準范圍為±
電鍍膜厚高靈敏度測量電解式膜厚測厚儀 的詳細介紹
電鍍膜厚高靈敏度測量電解式膜厚測厚儀
電鍍膜厚高靈敏度測量電解式膜厚測厚儀
電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備，它基于庫侖法原理，通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度，主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點：
- 輕巧緊湊的機身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。
- 增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設置為高于以前的模型，并可以提高測量的穩定性。
- 廣泛的校準范圍：標準板的校準范圍為±15％，確保測量結果的準確性。
- 1/100范圍：也可以用于Au，Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍（以0.001μm為單位進行測量）。
- 墊片范圍的3種類型是標準設備：可以使用三種類型的墊片，分別為3.4φ，2.4φ和1.7φ，以適配不同尺寸工件，可檢測非導電性基材上的鍍層。
- 配備主動功能：主動功能可去除一些氧化物，從而減少氧化物測量失敗。
- 簡易范圍設定：由于所有設置都是通過撥盤進行的，因此可以輕松進行待測鍍層的佳設置。
CT-3型膜厚計的測量范圍為0.006~300μm，最小分解能可達0.001μm，能夠測量極薄的鍍層。這款設備特別擅長超薄層（<1μm）與厚鍍層（≤300μm）的檢測，尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求，適合電子元器件行業、精密零部件行業以及通用制造業的常規鍍層檢測。
電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備，它基于庫侖法原理，通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度，主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點：
- 輕巧緊湊的機身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。
- 增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設置為高于以前的模型，并可以提高測量的穩定性。
- 廣泛的校準范圍：標準板的校準范圍為±15％，確保測量結果的準確性。
- 1/100范圍：也可以用于Au，Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍（以0.001μm為單位進行測量）。
- 墊片范圍的3種類型是標準設備：可以使用三種類型的墊片，分別為3.4φ，2.4φ和1.7φ，以適配不同尺寸工件，可檢測非導電性基材上的鍍層。
- 配備主動功能：主動功能可去除一些氧化物，從而減少氧化物測量失敗。
- 簡易范圍設定：由于所有設置都是通過撥盤進行的，因此可以輕松進行待測鍍層的佳設置。
CT-3型膜厚計的測量范圍為0.006~300μm，最小分解能可達0.001μm，能夠測量極薄的鍍層。這款設備特別擅長超薄層（<1μm）與厚鍍層（≤300μm）的檢測，尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求，適合電子元器件行業、精密零部件行業以及通用制造業的常規鍍層檢測。
電解式膜厚計是一款輕量化高精度的設備，它基于庫侖法原理，通過電解溶解鍍層的電量與時間計算厚度，主要適用于生產現場的快速檢測以及中小型企業的質檢需求。CT-3型膜厚計具有以下特點：
- 輕巧緊湊的機身：主體的重量為3.0千克，非常緊湊，便于攜帶和使用。
- 增加高靈敏度范圍：可以將靈敏度設置為高于以前的模型，并可以提高測量的穩定性。
- 廣泛的校準范圍：標準板的校準范圍為±15％，確保測量結果的準確性。
- 1/100范圍：也可以用于Au，Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍（以0.001μm為單位進行測量）。
- 墊片范圍的3種類型是標準設備：可以使用三種類型的墊片，分別為3.4φ，2.4φ和1.7φ，以適配不同尺寸工件，可檢測非導電性基材上的鍍層。
- 配備主動功能：主動功能可去除一些氧化物，從而減少氧化物測量失敗。
- 簡易范圍設定：由于所有設置都是通過撥盤進行的，因此可以輕松進行待測鍍層的佳設置。
CT-3型膜厚計的測量范圍為0.006~300μm，最小分解能可達0.001μm，能夠測量極薄的鍍層。這款設備特別擅長超薄層（<1μm）與厚鍍層（≤300μm）的檢測，尤其適配1μm以下薄鍍層測量需求，適合電子元器件行業、精密零部件行業以及通用制造業的常規鍍層檢測。
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