產品資料
半導體LCD測定用高分辨率標準光源D2 燈
產品名稱: 半導體LCD測定用高分辨率標準光源D2 燈
產品型號: A3611S
產品特點: 半導體LCD測定用高分辨率標準光源D2 燈深紫外 UV-VIS 光譜儀標準光源 · 190-400 nm 峰值 · 高穩定性 · 長壽命適用于半導體、LCD、科研光譜分析
半導體LCD測定用高分辨率標準光源D2 燈 的詳細介紹
半導體LCD測定用高分辨率標準光源D2 燈
半導體LCD測定用高分辨率標準光源D2 燈
深紫外 UV-VIS 光譜儀標準光源 · 190-400 nm 峰值 · 高穩定性 · 長壽命
適用于半導體、LCD、科研光譜分析
一、產品定位
- D2燈（Deuterium Lamp）：190-400 nm 深紫外標準光源
- Milas 供應：日本原廠，真空/大氣雙版本，高穩定性
- 應用領域：半導體膜厚、LCD 配向膜、UV-VIS 光譜儀、科研分析
- 替代型號：Hamamatsu L2D2、Heraeus D2plus、Ocean Insight DH-2000
二、核心技術參數（Milas D2燈）
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 光源類型 | 深紫外氘燈（D2 Lamp） |
| 波長范圍 | 190 – 400 nm（峰值 280 nm） |
| 輸出穩定性 | < ±0.1 %（10 min，恒溫） |
| 啟動時間 | < 5 min（至穩定） |
| 燈電流 | 300 mA（典型） |
| 燈電壓 | 90 V（典型） |
| 燈壽命 | 2,000 h（真空版） / 3,000 h（大氣版） |
| 真空度 | ≤ 1×10?? Pa（真空版） |
| 大氣版 | 可選（內置除塵窗） |
| 電源 | DC 12 V / 24 V（含驅動器） |
| 接口 | SMA905 / FC 光纖（真空饋通） |
| 尺寸/重量 | Φ20×70 mm，0.2 kg（燈頭） |
三、功能亮點
- 190-400 nm 深紫外：適合 < 5 nm 超薄膜測定，高分辨率
- < ±0.1 % 穩定性：基線漂移 < 0.1 mAU，無需頻繁校準
- 真空/大氣雙版本：真空度 ≤ 1×10?? Pa，潔凈室兼容
- >2,000 h 壽命：真空版 2,000 h，大氣版 3,000 h
一、產品定位
- D2燈（Deuterium Lamp）：190-400 nm 深紫外標準光源
- Milas 供應：日本原廠，真空/大氣雙版本，高穩定性
- 應用領域：半導體膜厚、LCD 配向膜、UV-VIS 光譜儀、科研分析
- 替代型號：Hamamatsu L2D2、Heraeus D2plus、Ocean Insight DH-2000
二、核心技術參數（Milas D2燈）
| 項目 | 參數 |
|---|---|
| 光源類型 | 深紫外氘燈（D2 Lamp） |
| 波長范圍 | 190 – 400 nm（峰值 280 nm） |
| 輸出穩定性 | < ±0.1 %（10 min，恒溫） |
| 啟動時間 | < 5 min（至穩定） |
| 燈電流 | 300 mA（典型） |
| 燈電壓 | 90 V（典型） |
| 燈壽命 | 2,000 h（真空版） / 3,000 h（大氣版） |
| 真空度 | ≤ 1×10?? Pa（真空版） |
| 大氣版 | 可選（內置除塵窗） |
| 電源 | DC 12 V / 24 V（含驅動器） |
| 接口 | SMA905 / FC 光纖（真空饋通） |
| 尺寸/重量 | Φ20×70 mm，0.2 kg（燈頭） |
三、功能亮點
- 190-400 nm 深紫外：適合 < 5 nm 超薄膜測定，高分辨率
- < ±0.1 % 穩定性：基線漂移 < 0.1 mAU，無需頻繁校準
- 真空/大氣雙版本：真空度 ≤ 1×10?? Pa，潔凈室兼容
- >2,000 h 壽命：真空版 2,000 h，大氣版 3,000 h
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